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1、高加速壽命試驗(yàn)(HighlyAcceleratedLifeTesting,簡稱HALT試驗(yàn))是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。
2、HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
本文關(guān)于高加速壽命試驗(yàn)的簡介就講解完畢,希望對大家有所幫助。
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