芯片測(cè)試（關(guān)于芯片測(cè)試的簡(jiǎn)介）

2022-07-12 16:40:30 編輯：魏和君來源：

導(dǎo)讀大家好，芯片測(cè)試，關(guān)于芯片測(cè)試的簡(jiǎn)介很多人還不知道，現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！1、設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試。2、SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝

大家好，芯片測(cè)試，關(guān)于芯片測(cè)試的簡(jiǎn)介很多人還不知道，現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！

1、設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試。

2、SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝，因此，對(duì)Soc器件的測(cè)試需要采用全新的方法。

3、由于每個(gè)功能元件都有其自身的測(cè)試要求，設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測(cè)試規(guī)劃。

本文關(guān)于芯片測(cè)試的簡(jiǎn)介就講解完畢，希望對(duì)大家有所幫助。

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