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1、聯(lián)合測試行為組織英文為Joint Test Action Group該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標(biāo)準(zhǔn)。
2、JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。
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