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英特爾工程師Vishram Pandit獲得DesignCon 2019年度工程師獎(jiǎng),希望提高對(duì)信號(hào)和電源完整性問(wèn)題的認(rèn)識(shí)。Vishram Pandit的目標(biāo)很簡(jiǎn)單:與技術(shù)社區(qū)分享知識(shí),有朝一日為下一代汽車,手機(jī)和服務(wù)器創(chuàng)建CPU。Pandit是DesignCon 2019年度工程師獎(jiǎng)的獲得者,他認(rèn)為共享過(guò)程現(xiàn)在至關(guān)重要,特別是在信號(hào)和電源完整性方面。他說(shuō),在那里,學(xué)術(shù)和專業(yè)方面的需求都在增長(zhǎng)。“我們需要有更多的人和更多的工程團(tuán)隊(duì)在這個(gè)領(lǐng)域工作,”他告訴設(shè)計(jì)新聞。“但是這類課程的學(xué)校很少。”
事實(shí)上,潘迪特自己也學(xué)會(huì)了他多數(shù)同時(shí)代人的做法 - 多年來(lái)。開(kāi)始作為原料11日-grader其大學(xué)理事會(huì)成績(jī)排名他16日從成千上萬(wàn)的學(xué)生誰(shuí)參加了考試在孟買,印度。20世紀(jì)80年代,Pandit進(jìn)入了浦那著名的工程學(xué)院。在那里,他參加了電子工程本科的傳統(tǒng)課程。后來(lái),在猶他大學(xué)工程學(xué)院,他專注于電磁學(xué),射頻和微波工程。
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然而,他的正規(guī)教育只是作為基礎(chǔ)。通過(guò)多年的在職經(jīng)驗(yàn),他對(duì)信號(hào)和電源完整性的了解較晚。他早期的工作是儀器和控制,在那里他第一次接觸到信號(hào)和電源完整性的新生領(lǐng)域。后來(lái),他在許多會(huì)議上受益于知識(shí)共享機(jī)會(huì),例如DesignCon。
“在過(guò)去,你可以這樣做,”他說(shuō)。“如果你在后臺(tái)有電磁學(xué),射頻和微波工程,你可以將這些概念直接應(yīng)用到你的工作中。”
但他說(shuō),對(duì)于下一代工程師來(lái)說(shuō),這種方法可能已經(jīng)不夠好了。“頻率正在增加,信號(hào)完整性和電源完整性領(lǐng)域?qū)⒚媾R挑戰(zhàn),”他告訴我們。“當(dāng)我1997年在休斯網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)公司工作時(shí),我們談?wù)摰念l率是400 MHz,或者說(shuō)是800 MHz。現(xiàn)在,我們談?wù)摰氖?6 GHz。“
潘偉迪正試圖通過(guò)巨大的出版努力來(lái)幫助建立社區(qū)知識(shí)。在DesignCon十多年的時(shí)間里,他已經(jīng)出版或共同出版了19篇技術(shù)論文,其中三篇是最佳論文獎(jiǎng)的入圍者,另外三篇是獲獎(jiǎng)?wù)摺?008年,他因“Gigahertz片上功率傳輸網(wǎng)絡(luò)的仿真和表征”而獲得最佳論文獎(jiǎng)。在2009年,他又獲得了“SSO噪聲,眼睛邊緣和抖動(dòng)表征”的最佳論文獎(jiǎng)。 I / O電源完整性。“2014年,他再次成為”電源噪聲和抖動(dòng)對(duì)DDR3L存儲(chǔ)器接口影響的分析和關(guān)聯(lián)的共同贏家。“他還擔(dān)任DesignCon技術(shù)計(jì)劃委員會(huì)成員。 2010年以及2012年以來(lái)的賽道組織者。
這些經(jīng)驗(yàn),以及他作為英特爾技術(shù)印度列兵平臺(tái)架構(gòu)師的日常角色。有限公司為Pandit提供了電子產(chǎn)品的未來(lái)。他相信,在接下來(lái)的幾年里,信號(hào)和電源完整性工程師將面臨前所未有的挑戰(zhàn),主要是基于業(yè)界對(duì)更快計(jì)算的渴望。這些挑戰(zhàn)包括更高的接口速度,更低的工作電壓,更嚴(yán)格的規(guī)格以及更大的成本壓力。此外,這些挑戰(zhàn)幾乎適用于所有最先進(jìn)的設(shè)備,包括汽車,手機(jī),平板電腦和服務(wù)器。
“如果你想做更快的計(jì)算,那么你必須確保你達(dá)到了噪音目標(biāo),”他說(shuō)。“這對(duì)于未來(lái)的電子產(chǎn)品來(lái)說(shuō)非常重要。”
今年,潘偉迪將再次分享他的知識(shí),不僅是作為一個(gè)曲目組織者,而且作為共同主持人。他將作為L(zhǎng)PDDR5內(nèi)存技術(shù)的電子完整性會(huì)議的一部分,該技術(shù)研究了低功耗,小尺寸設(shè)計(jì)的存儲(chǔ)器技術(shù)挑戰(zhàn)。
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